SEMILAB

Nos équipements de contrôle des procédés peuvent être implémentés en ligne dans le contrôle de production, en mode hors ligne avec un échantillonnage approprié, ou même intégrés sur la ligne de processus, tels que sur les dépôts en roll-to-roll.

SEMILAB conçoit, produit et vend des instruments de métrologie pour la caractérisation des semi-conducteurs, des cellules solaires, des écrans plats et afficheurs (TFT, OLED) ainsi que des matériaux de l’électronique imprimée, pour le suivi du processus de fabrication mais aussi pour la R&D dans ces domaines.
Nous offrons une variété de techniques de mesure dont beaucoup sont sans contact et non destructives. Ces technologies peuvent être facilement intégrées sur des plates-formes différentes, allant de simples appareils portables, des systèmes de table incluant la capacité de cartographie de haute résolution, aux outils de contrôle de production autonome entièrement automatisé pour ligne de production de production standard et avancée.
Nous offrons également une gamme de produits et techniques de mesures en ligne adaptée aux nouveaux dépôts Roll to roll ou feuille à feuille pour le photovoltaïque organique ou les OLED.

Notre stratégie consiste à continuellement améliorer et faire évoluer nos produits pour répondre aux nouveaux défis pour ces applications et pour offrir des solutions adaptables pour les besoins de nos clients avec des solutions à haute valeur ajoutée. Nous participons à divers projets internationaux et contrats européens de Recherche et Développement.

Nous effectuons les missions et tâches au sein de ces projets de manière responsable, offrant des avantages et supports importants à nos employés et à nos partenaires afin atteindre le but de leur recherche, comme le soutien à leur formation scientifique.

Caractérisation optique

SEMILAB fournit des équipements pour la caractérisation complète des couches minces, comme ceux utilisés dans les dispositifs imprimés et organiques comme les multicouches OLED et Photovoltaïque Organique.
Nous offrons une large gamme de métrologie optique, comme l’ellipsométrie spectroscopique, la réflectométrie spectroscopique, la transmission spectroscopique, la photoluminescence, la réflectométrie par imagerie et l’interférométrie en lumière blanche, qui permettent un contrôle complet de toutes les propriétés optiques de ces couches.

Caractérisation électrique

En fonction des besoins spécifiques de l’application, les techniques avec contact ou sans contact peuvent être choisies dans la gamme de produits de caractérisation électrique de SEMILAB pour mesurer les propriétés électriques des films ou substrats, qui peuvent être la résistivité et la résistance carrée (par 4 pointes, ou sans contact par mesures de courants de Foucault, Eddy current), la durée de vie (par μ-PCR), etc. des couches minces métalliques, des semi-conducteurs organiques et bien sûr les couches d’électrode conductrice transparentes.

Plates-formes

SEMILAB fournit des outils de type R&D pour les échantillons de petite taille, des plate-formes intermédiaires (jusqu’à 450 x 450 mm) et des grande plates-formes de contrôle de production pour les grands substrats de verre, ou flexible en feuille à feuille pour les processus de développement et de contrôle. Des solutions de contrôle en ligne en temps réel fournissant des mesures rapides et précises en temps réel sont aussi possibles pour les transporteurs de type convoyeurs, ou en continu sur pour les impressions en Roll to Roll de petite et grande taille.